Description

The Advanced Study Institute provided an opportunity for researchers in universities, industry and National and International Laboratories, from the disciplines ofmaterials science, physics, chemistry and engineering to meet together in an assessment of the impact of electron and scanning probe microscopy on advanced material research. This volume presents a coherent synopsis of a rapidly evolving field. Subjects covered include diffraction contrast and defect analysis by conventional TEM lattice imaging, phase contrast and resolution limits in high resolution electron microscopy. Specialized electron diffraction techniques are also covered, as is the application of parallel electron energy loss spectroscopy and scanning transmission EM for subnanometer analysis. Materials analyzed include thin films, interfaces and non-conventional materials. WDS and EDS are treated, with an emphasis on o(pZ) techniques for the analysis of thin layers and surface films. Theoretical and practical aspects of ESEM are discussed in relation to applications in crystal growth, biomaterials and polymers. Developments in SPM are also described.

Langue

en

Version

Broché

Date de sortie initiale

30 septembre 1999

Nombre de pages

516

Illustrations

Non

Personnes impliquées

Auteur principal

David G. Rickerby

Deuxième auteur

Giovanni Valdre

Coauteur

Ugo Valdre

Rédacteur en chef

David G. Rickerby

Deuxième rédacteur

Giovanni Valdre

Editeur principal

Springer

Informations sur le fabricant

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Springer Nature Customer Service Center GmbH

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Europaplatz 3 | 69115| Heidelberg| DE

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ProductSafety@springernature.com

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Hauteur de l’emballage

27 mm

Largeur d’emballage

155 mm

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160 mm

Livre d‘étude

Non

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235 mm

Longueur du produit

240 mm

Poids de l’emballage

772 g

Police de caractères extra large

Non

Édition

Softcover reprint of the original 1st ed. 1999

EAN

EAN

9780792359401

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Catégories

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Disponibilité

Disponible à l’adresse suivante

Langue

Anglais

Type de livre

Paperback